弊社では、一般空調・クリーンルーム・クリーンベンチ・クリーンブースでの顕微鏡検査・組立を得意としております。
①クリーンルーム内での顕微鏡検査状況
クリーンルーム環境 温度:25±3℃
湿度:50±15%
クリーン度:クラス1000
(実力値0.5μm:200以下/Cf)
作業/検査要員
クリーンウエア/手袋/マスク
必要によりアースバンド
現在の主な検査内容
半導体チップ外観検査
精密部品外観検査等
顕微鏡倍率:8~40倍
環境:一般空調
温度:25±5℃
湿度:50±25%
作業/検査要員
防塵作業着/手袋
必要によりアースバンド/マスク
現在の主な検査内容
プリンターインク吐出穴検査
半導体チップ外観検査(C/Rにて)
顕微鏡倍率:50~200倍
クリーンブース環境
温度:25±3℃
湿度:50±20%
クリーン度:クラス1000
(実力値0.5μm:500以下/Cf)
作業/検査要員
防塵作業着/手袋/マスク
必要によりアースバンド
現在の主な検査内容
精密部品外観検査等
顕微鏡倍率:8~40倍
クリーンルーム内に設置
用途 寸法測定
写真撮影
画像処理 他
顕微鏡倍率:50~400倍